斑疹傷寒立克次體IFA IgM免疫熒光玻片

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斑疹傷寒立克次體IFA IgM免疫熒光玻片

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誤差嘅分類→隨機(jī)誤差

隨機(jī)誤差由某啲都控制、唔逃過(guò)嘅偶然因素造成。也稱偶然誤差。

1.特點(diǎn)

大小、正負(fù)都唔入墻，唔通過(guò)較嚟減小或者消除，可以通過(guò)增加測(cè)定次數(shù)予以減小。

2.惹羅

唔識(shí)用中溫度變化、濕度變化、甚至塵等都會(huì)惹測(cè)定結(jié)果波動(dòng)。

系統(tǒng)誤差同隨機(jī)誤差劃分唔系嘅，對(duì)滴定終點(diǎn)判斷唔同有個(gè)人嘅主觀羅，都有偶然性。隨機(jī)誤差過(guò)系統(tǒng)誤差更副偶然性。分析工作中嘅“過(guò)失”唔同于呢兩種誤差。佢系由于分析人員用時(shí)粗心大意或者違反用規(guī)程所惹嘅錯(cuò)誤。

隨機(jī)誤差嘅常態(tài)分配

1.分布曲線

y：或然率密度，表示量測(cè)值喺此處出現(xiàn)嘅或然率。y越大，出現(xiàn)嘅可能性越大。x：量測(cè)值。

μ總體平均值：無(wú)限次資料嘅平均值，相應(yīng)于曲線最高啲嘅畫(huà)坐標(biāo)值，表示無(wú)限個(gè)數(shù)據(jù)集中趨勢(shì)。喺冇系統(tǒng)誤差時(shí)，佢就真系抵。

σ總體標(biāo)準(zhǔn)偏差：總體平均抵到曲線兩轉(zhuǎn)捩點(diǎn)之一嘅腳，表征資料分散程度。σ細(xì)，資料集中，曲線又高又瘦，σ大，資料分散，曲線比較矮比較肥。

x-σ：隨機(jī)誤差。若以x-σ為橫坐標(biāo)，就曲線最高啲對(duì)應(yīng)橫坐標(biāo)為0。

對(duì)于一條曲線嚟講，μ同σ系呢條曲線嘅兩個(gè)引數(shù)，所以用N（μ，σ）表示呢條曲線。呢條曲線可以用個(gè)函數(shù)式表示。